McCrone, Walter C (1916-2002) Amélioration Assistance
079686494
Notice de type Personne

Forme retenue

McCrone, Walter C (1916-2002)

Information

Langue d'expression : anglais
Pays : ÉTATS-UNIS
Date de naissance : 09 06 1916
Date de mort : 10 07 2002
Sexe : masculin

Notes

Note publique d'information :
Microscopiste


Source

Internet, http://www.loc.gov, juillet 2004

Information trouvée :Walter C. McCrone; chemical analyst; b. Walter Cox McCrone on June 9, 1916 in Wilmington, Del.; d. July 10, 2002 in Chicago

Utilisation dans Rameau

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Notices bibliographiques liées :2rôle(s)

070 Auteur ( 4 )
340 Editeur scientifique ( 3 )



Auteur :

Rôles ?



012888737 : The Infanta adventure and the lost Manet / Andrew W. Brainerd ; foreword by Albert Boime ; report by Walter C. McCrone / Long Beach Michigan City : Reichl press , 1988

01883597X : Polarized light microscopy / by Walter C. McCrone, Lucy B. McCrone, John Gustav Delly / Ann Arbor, Mich. : Ann Arbor Science Publishers , c1978

015999165 : Fusion methods in chemical microscopy [Texte imprimé] / Walter C. McCrone,Jr.,... / New York : Interscience , cop. 1957

015458520 : The particle atlas [Texte imprimé] : an encyclopedia of techniques for small particle identification / Walter C. McCrone, John Gustav Delly / 2nd edition / Ann Arbor : Ann Arbor Science Publishers , cop. 1973



Editeur scientifique :

Rôles ?



004918983 : The particle atlas : a photomicrographic reference for the microscopical identification of particulate substances / Walter C. McCrone...[et al.] / Ann Arbor : Ann Arbor science publ , 1967

03594787X : Scientific detection of fakery in art : 29-30 January 1998, San Jose, California / Walter McCrone, Duane R. Chartier, Richard J Weiss, chairs/editors ; sponsored by IS&T--the Society for Imaging Science and Technology [and] SPIE, the International Society for Optical Engineering / Bellingham (Wash.) : SPIE , cop. 1998

05218563X : Scientific detection of fakery in art II [Texte imprimé] : 20-21 September 1999, Boston, Massachusetts / Duane R. Chartier, Walter McCrone, Richard J. Weiss, editors ; sponsored by SPIE, the International Society for Optical Engineering / Bellingham (Wash.) : SPIE , cop. 2000


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