Identifiant pérenne de la notice : 235099511
Notice de type
Personne
Multi-MGy total ionizing dose induced MOSFET variability effects on radiation hardened
CMOS image sensor performances / Serena Rizzolo, Vincent Goiffon, Marius Sergent,
Franck Corbière, Sébastien Rolando, Aziouz Chabane, Philippe Paillet, Claude Marcandella,
Sylvain Girard, Pierre Magnan, Marco Van Uffelen, Laura Mont Casellas, Robin Scott,
Wouter De Cock. In : Radiations Effects on Components and Systems (RADECS), 02-06
October 2017 , Geneva, Switzerland
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