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Identifiant pérenne de la notice : 040740897Copier cet identifiant (PPN)
URI de l'entité : http://www.idref.fr/040740897/idCopier cet URI
Notice de type FMeSH

Point d'accès autorisé

Microscopie électronique

Variante de point d'accès

Electron Microscopy
[Nom commun]

Informations

Note publique d''information : 
Microscopy using an electron beam, instead of light, to visualize the sample, thereby allowing much greater magnification. The interactions of ELECTRONS with specimens are used to provide information about the fine structure of that specimen. In TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY the reactions of the electrons that are transmitted through the specimen are imaged. In SCANNING ELECTRON MICROSCOPY an electron beam falls at a non-normal angle on the specimen and the image is derived from the reactions occurring above the plane of the specimen

Note générale sur le champ d'application : 
general or unspecified; prefer specifics

Point d'accès autorisé parallèle

Microscopy, Electron

Identifiants externes

Identifiant MeSH : mesD008854

Utilisation dans FMeSH

Qualificatifs autorisés : CL / EC / HI / IS / MT / ST / TD / VE / SN / ES

Informations sur la notice

Identifiant de la notice : 040740897
RCR créateur de la notice : 0001
Date de création : 23-09-1998
RCR dernier modificateur de la notice : 4994
Date de dernière modification : 20-03-2024 à 09 h 59

... Références liées : ...