Caractérisation à l'échelle nanométrique d'interfaces métal/SiOxNy / Ignace Jarrige
; sous la direction de Philippe Jonnard, 2003
Relations entre les caractéristiques structurales de miroirs multicouches et leurs
propriétés optiques dans le domaine X-UV / Hélène Maury ; sous la direction de Philippe
Jonnard, 2007