Analyse des modulations exelfs observées en spectroscopie de pertes d'énergie d'électrons
(EELS) /Khalid Hssein; sous la direction de Jean Sevely, 1988
Étude par la méthode photographique du contraste dans les diagrammes de Debye-Scherrer
en diffraction électronique : tensions comprises entre 50 et 1200 kilovolts [thèse]
/ Jean Sevely, 1969