Electron microscopy in which the ELECTRONS or their reaction products that pass down
through the specimen are imaged below the plane of the specimen
Note générale sur le champ d'application :
note specifics
Point d'accès autorisé parallèle
Microscopy, Electron, Transmission
Identifiants externes
Identifiant MeSH : mesD046529
Utilisation dans FMeSH
Qualificatifs autorisés : CL / EC / HI / IS / MT / ST / TD / VE / SN / ES2005; use MICROSCOPY, ELECTRON 1991-2004; for ELECTRON DIFFRACTION MICROSCOPY use
MICROSCOPY, ELECTRON 2003-2004
Informations sur la notice
Identifiant de la notice : 114594201
RCR créateur de la notice : 0004
Date de création : 07-07-2004
RCR dernier modificateur de la notice : 4994
Date de dernière modification : 20-03-2024 à 10 h 25