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Notice de type Personne

Point d'accès autorisé

Howie, Archibald

Information

(par souci de protection des données à caractère personnel, le jour et le mois de naissance peuvent ne pas être affichés)
Langue d'expression : anglais
Pays : Royaume-Uni de Grande-Bretagne et d'Irlande du Nord
Genre : Inconnu

Notes

Note publique d'information : 
Professeur de physique (optique électronique). Université de Cambridge, Royaume-Uni

Identifiants externes

Identifiant VIAF : http://viaf.org/viaf/40914160
Identifiant ISNI : 0000000067542091

Source

Electron microscopy of thin crystals / by Peter Hirsch, A. Howie, Robin Nicholson [et al.], 1977

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