Identifiant pérenne de la notice : 129496278
Notice de type
Personne
Monte-Carlo simulation and contribution to understanding of Single-Event-Upset (SEU)
mechanisms in CMOS technologies down to 20nm technological node / par Uznanski Slawosz,
21/09/2011
Radiation effects and soft errors in integrated circuits and electronic devices /
ed. R. D. Schrimpf, D. M. Fleetwood, 2004
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