Etude morphologique et métrologique des sinus de Valsalva par traitement d'images
tomographiques / Blanchard Cédric ; sous la direction de Yvon Voisin et Tadeusz Sliwa,
2012
https://www.cemhti.cnrs-orleans.fr/People/?Id=442, 2022-01-27
Information trouvée : Enseignant-chercheur à l'Université d'Orléans et membre du laboratoire Conditions
extrêmes et matériaux : haute température et irradiation (CEMHTI)