181976218
2014-11-25
2020-10-21T14:01:12
Prévision des effets de vieillissement par électromigration dans les circuits intégrés CMOS en noeuds technologiques submicroniques. / par Ouattara Boukary, 08/07/2014
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Ouattara, Boukary (1982-....)
Ouattara
Boukary
Boukary Ouattara
1982
Auteur d'une thèse en Microélectronique à Paris 6 en 2014
Prévision des effets de vieillissement par électromigration dans les circuits intégrés CMOS en noeuds technologiques submicroniques. / Boukary Ouattara ; sous la direction de Habib Mehrez / , 2014
Prévision des effets de vieillissement par électromigration dans les circuits intégrés CMOS en noeuds technologiques submicroniques. / Boukary Ouattara le 2014 [ Paris 6 ]