Note publique d'information : Le contrôle non destructif (CND) par courants de Foucault (CF) est une technique largement
utilisée dans le domaine industriel. La modélisation apporte une aide précieuse pour
sa mise en œuvre. Différentes approches peuvent être envisagées pour le développement
d’outils de simulation. Le modèle VIM (Volume Integral Method) est basé sur une résolution
semi-analytique des équations de Maxwell et un formalisme par intégrales de volume.
Il permet de simuler différentes configurations de CND par CF impliquant des défauts
volumiques. Au cours de ces travaux, le modèle SIM a été développé pour traiter le
cas des défauts d’ouverture petite. Le défaut est pris en compte au niveau du formalisme
comme une source fictive de courants surfaciques, décrite par la fonction scalaire
densité de dipôle. Des validations ont été effectuées, confrontant les réponses de
sonde calculées par SIM, par VIM et obtenues expérimentalement. Le modèle SIM se révèle
très rapide et bien adapté à l’obtention de cartographies 2D des réponses de sondes,
avec une précision de l’ordre de 10% par rapport aux données expérimentales. Cependant,
les hypothèses introduites dans le formalisme SIM sont très restrictives pour certaines
configurations. Un nouveau modèle combinant SIM et VIM a été mis au point. Les résultats
de simulation deviennent tout à fait satisfaisants dans toutes les configurations
de contrôle étudiées. De plus, les performances en temps de calcul sont de l’ordre
de celles du modèle SIM, tout en bénéficiant d’une précision proche de celle de la
méthode VIM. Cette nouvelle méthode sera intégrée à terme à CIVA.
Note publique d'information : The Eddy Current (EC) Non Destructive Testing (NDT) is used in various industrial
fields. The modelling of the implied phenomena brings a substantial help. It requires
the resolution of the Maxwell equations that can be achieved with semi-analytical
models, bases on integral methods. The Volume Integral Method (VIM) enables to simulate
various ECNDT configurations involving volumetric defects. The Surface Integral Model
(SIM) has been developed for defect having a small aperture. The defect is taken into
account as a source layer of current dipole. Based on this assumption, the existence
of a scalar potential quantity can be demonstrated. A study of different numerical
implementations enables to select the most performant. Then, validations have been
carried out, comparing probe responses, computed by SIM, VIM, to experimental data.
The SIM model turns out to be very fast, and well adapted to get 2-D probe responses,
with good accuracy. Nevertheless, the hypotheses used in the SIM formalism appeared
to be very restrictive for some configurations. A model has been set up, that takes
advantages of both VIM and SIM. Another set of comparisons between data obtained by
the three simulation models and experimental measurements has been carried out, for
numerous configurations. The new “hybrid” model brings suitable corrections to the
SIM model. The simulation results become very satisfactory for all tested NDT configurations,
with accuracy of the order of those brought by the VIM model as well as computation
load and time comparable to those of the SIM. This hybrid model will be integrated
in fine to CIVA.
paprika.idref.fr
data.idref.fr
Documentation
