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Identifiant pérenne de la notice : 221496068Copier cet identifiant (PPN)
Notice de type Congrès

Point d'accès autorisé

International conference on extended defects in semiconductors (2008 ; Poitiers, France)

Sur le web

Variante de point d'accès

EDS 2008
[Nom de collectivité]

Information

Langue d'expression : français, anglais
Pays associé : France
Date de naissance : 14 -  09 -  2008
Date de mort : 19 -  09 -  2008

Identifiants externes

Identifiant VIAF : http://viaf.org/viaf/155822591

Source

International conference on extended defects in semiconductors, EDS 2008 : Poitiers-Futuroscope, France, 14-19 September 2008 / guest editors, Jacques Rabier and Eric Le Bourhis, 2009

... Références liées : ...