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226640949
http://www.idref.fr/226640949
20180503
20240217013029.000
0499
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Tr2
20180503afrey50 ba0
fre
639-2
2009
k
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0
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AFNOR
Oeuvre Textuelle
ba0yba0
Méthodes et outils pour l'évaluation de la sensibilité de circuits intégrés avancés face aux radiations naturelles
ba0yba0y
La réduction des dimensions et paramètres électriques des transistors, fruit des progrès dans les technologies de fabrication de circuits intégrés, rend les composants présents et futurs de plus en plus sensibles aux perturbations appelées évènements singuliers S.E.E. (Single Event Effects). Ces événements sont la conséquence d'une impulsion de courant résultant de l'impact dans des zones sensibles du circuit, de particules énergétiques présentes dans l'environnement dans lequel ils fonctionnent. Parmi les différents types de SEE, peuvent être mentionnés les SEU (Single Event Upsets) qui consistent en l'inversion du contenu de cellules mémoires, les SEL (Single Event Latchups) qui donnent lieu à des courts-circuits masse-alimentation et peuvent donc conduire à la destruction du circuit par effet thermique. Cette thèse a pour but de décrire et valider les méthodologies nécessaires pour évaluer de manière précise la sensibilité face aux radiations de deux types de circuits numériques représentatifs, processeurs et mémoires, composants utilisés dans la plupart des systèmes embarqués.
ba0yba0y
The reduction of electrical parameters of transistors, resulting of the progress done in the IC's manufacturing technologies, make present and future devices more and more sensitive to transient perturbations, so-called S.E.E. (Single Event Effects) provoked as the consequence of the current pulse issued from the impact with sensitive areas of the circuit, of energetic particles present in the environment where the circuit operates [1]. Among the different types of S.E.E. can be mentioned the SEU (Single Event Upsets) which consist in the inversion of the content of memory cells, the SEL (Single Event Latchup) which may lead to the device destruction as the consequence of thermal effects. This thesis aims at giving a description and validating the methodologies required to estimate the sensitivity to radiations of two types of digital integrated circuits, processors and memories, components used in embedded systems.
Thèse de doctorat
Microélectronique
Grenoble 1
2009
ba0yba0
Methods and tools for the evaluation of the sensitivity to natural radiations of advanced integrated circuits
069627053
ba0yba03
Velazco
Raoul
19..-....
informaticien
727
139647457
ba0yba03
Peronnard
Paul
1980-....
auteur en microélectronique
070
026404796
ba0yba03
Université Joseph Fourier
Grenoble
1971-2015
295
02757704X
Environnement spatial
rameau
027672212
Accélérateurs de particules
rameau
ba0yba0
027253139
Thèses et écrits académiques
rameau
530
TEF
620
TEF
FR
Abes
20240217
AFNOR