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URI de l'entité : http://www.idref.fr/231294468/idCopier cet URI
Notice de type Personne

Point d'accès autorisé

Hartiti, Bouchaib (19..-....)

Sur le web

Information

(par souci de protection des données à caractère personnel, le jour et le mois de naissance peuvent ne pas être affichés)
Langue d'expression : français
Pays : France
Date de naissance :    19XX

Notes

Note publique d'information : 
Auteur d'une Thèse de Doctorat en Electronique à Strasbourg 1 en 1990

Identifiants externes

Identifiant VIAF : http://viaf.org/viaf/204154196856820112547
Identifiant ORCID : 0000-0003-0168-9965
Identifiant ORCID : 0000-0002-8372-1422
Identifiant SCOPUS : 6603818758

Source

Role des recuits transitoires dans la generation des defauts electriquement actifs dans le silicium, effet Getter / Bouchaib Hartiti, 1990

... Références liées : ...