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URI de l'entité : http://www.idref.fr/243687664/idCopier cet URI
Notice de type Personne

Point d'accès autorisé

Davies, Gordon

Sur le web

Information

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Langue d'expression : anglais
Genre : Masculin

Identifiants externes

Identifiant VIAF : http://viaf.org/viaf/3296159248072304870008

Source

Shallow impurities in semiconductors : proceedings of the Fourth International Conference on Shallow Impurities in Semiconductors, King's College London, 31 July to 2 August 1990 / editor, Gordon Davies. - Zürich, Switzerland ; Brookfield, VT : Trans Tech Publications, © 1991. - 1 vol. (476 p.) : ill. ; 25 cm. - (Materials science forum ; vol. 65-66). - Notes bibliogr. Index. - ISBN 0-87849-619-X. - ISBN 978-0-87849-619-8

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