Identifiant pérenne de la notice : 245974121
Notice de type
Notice de regroupement
Note publique d'information : Ce travail concerne la caracterisation structurale et l'etude de l'interdiffusion
dans les superreseaux contraints cdte/cdznte et cdte/hgte, elabores par epitaxie par
jets moleculaires, au moyen de la double diffraction de rayons x. Les parametres structuraux
(composition, epaisseur, etat de deformation) sont obtenus de facon precise en utilisant
conjointement l'experience et la simulation en theorie cinematique. Les coefficients
d'interdiffusion des couples cd/zn (400c) et cd/hg (200c) sont mesures par diffraction
x. Ils permettent de calculer les profils de concentration des superreseaux en fonction
de la temperature et du temps de recuit. Par extrapolation, nous precisons les conditions
de croissance pour obtenir des interfaces raides, qui sont necessaires pour des dispositifs
optoelectroniques performants
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Documentation
