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URI de l'entité : http://www.idref.fr/250592975/idCopier cet URI
Notice de type Personne

Point d'accès autorisé

Paquez, Xavier (19..-....)
Nom à l'état civil

Sur le web

Information

(par souci de protection des données à caractère personnel, le jour et le mois de naissance peuvent ne pas être affichés)
Langue d'expression : anglais
Pays : France
Genre : Masculin

Notes

Note publique d'information : 
Ingénieur chercheur chez DSM, entreprise néerlandaise en industrie chimique de recherche et développement en sciences des matériaux. Encadrant scientifique DSM d'une thèse en Physique et sciences de la matière. Matière condensée et nanosciences à Aix-Marseille en 2019

Identifiants externes

Identifiant VIAF : http://viaf.org/viaf/124160789899802682993
Identifiant SCOPUS : 35734803200

Source

Development of ellipsometry porosimetry for the characterization of nanoporous thin films applied to photovoltaics / Jérôme Loizillon ; sous la direction de David Grosso. Thèse de doctorat : Physique et sciences de la matière. Matière condensée et nanosciences : Aix-Marseille : 2019

... Références liées : ...