Caractérisation et modélisation des composants MOS des technologies avancées (FDSOI,
nanofil, GaN HEMT, LTPS…) / Donghyun Kim ; sous la direction de Francis Balestra et
Jae Woo Lee. Thèse de doctorat : Nanoélectronique et nanotechnologie : Université
Grenoble Alpes : 2023